EU · Netherlands
Metrology SEM+FIB system
- Buying agency
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Notice type
- cn-standard
- Published
- 2026-07-28
- Closes
- 2026-09-07
- Location
- Netherlands
Description
[NLD] The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem
View the original notice on TED →
Similar tenders
- Europees openbare aanbesteding - Levering wegenzout
Gemeente Oldambt · Netherlands · Closes 2026-08-11
- Financieel- en HR-Systeem
VeiligheidNL · Netherlands · Closes 2026-10-07
- Uitvaartverzorging in het kader van de Wet op de Lijkbezorging
Gemeente Leeuwarden · Netherlands · Closes 2026-10-01
- 4-W-0040752-26: Selecteren aannemer voor de Rotterdamse vastgoedaanpak Boulevard Zuid
Gemeente Rotterdam · Netherlands
- Levering en installatie van en dienstverlening voor een Sunrey Installatie
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO · Netherlands · Closes 2026-09-21